THERMAL EXPANSlON OF V3Si

M. Milewits, S. J. Williamson
1978 Le Journal de Physique Colloques  
Des mesures dilatométriques effectuées entre 4,2 K et 293 K sur cinq échantillons de V 3 Si monocristallins n'ont pas permis de confirmer le coefficient de dilatation négatif extraordinaire observé juste en dessus de T c dans des échantillons polycristallins par Smith et al. Dans les deux échantillons présentant la transformation martensitique l'anomalie dilatométrique associée à la transformation est observée au moins jusque 60 K. Abstract.-Measurements of the thermal expansion coefficient of
more » ... ive single crystals of V,Si in the temperature range 4.2 -293 K fail to reveal the .unusual negative values just above T reported by Smith et. al. for polycrystalline samples. In two of the samples exhibiting a lattice transformation at low temperature associated anomalies are found to extend up to at least 60 K.
doi:10.1051/jphyscol:19786183 fatcat:j25qsy6ppvdx3k4lqxntt4pbze