A copy of this work was available on the public web and has been preserved in the Wayback Machine. The capture dates from 2018; you can also visit the original URL.
The file type is application/pdf
.
Odaklanış İyon Demeti (FIB) Kesitlemesi ile Diş Dokularına ait İçyapıların Mikro/Nano-Analizi
2017
Sakarya University Journal of Science
ÖZ Diş dokuları sert ve kırılgan olduğundan, bu malzemelerin ultramikrotomi veya diğer metotlarla kesitlenmesi ve içyapılarının mikro ve nano analizi problem yaratmaktadır. Bu tür malzemelerin mikroyapılarının bölgesel ve istenilen geometride incelenmesi için FIB-SEM çift demet platformların kullanılması en uygun çözümdür. Çift demet platformları, eşzamanlı olarak yüksek büyütmelere ve yüksek çözünürlüklere varabilen görüntüleme ve elementel analiz imkânı sağlamaktadır. Bu çalışmada, FIB-SEM
doi:10.16984/saufenbilder.284224
fatcat:4gjbjv3zxjhpjo6adzlj6tcaoe