О выборе диапазонов измерения отражательной способности призмы связи при волноводной спектроскопии тонких пленок

А. Б. Сотский, Л. М. Штейнгарт, С. О. Парашков, Л. И. Сотская
2016 Известия Российской академии наук Серия физическая  
doi:10.7868/s036767651604030x fatcat:u2smi75eure3jku3m2jgvzm2e4