2014 Des jonctions Josephson YBa2Cu3O7-03B4/PrBa2Cu3O7-03B4/YBa2Cu3O7-03B4 de croissance axe 03B1, déposées par pulvérisation cathodique sur des substrats SrTiO3 (100), ont été étudiées par microscopie électronique en transmission (MET) effectuée sur des coupes transverses. Les expériences ont montré que, en dehors de quelques grains orientés axe c trouvés au tout début des films, l'hétéroépitaxie des différentes couches avec l'axe 03B1 pour direction de croissance a bien été obtenue. La

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... ructure des interfaces et des couches successives a été étudiée en microscopie électronique haute résolution, une attention particulière étant accordée à la détermination des phases secondaires. De petites inclusions de Y2O3 dans les couches YBa2Cu3O7-03B4 ainsi que des précipités de PrBaO3 dans les couches PrBa2Cu3O7-03B4 ont été identifiés au travers de l'analyse d'images de réseaux et de leurs diffractogrammes. Abstract. 2014 A-axis oriented YBa2Cu3O7-03B4/PrBa2Cu3O7-03B4/YBa2Cu3O7-03B4 Josephson junctions grown by dc-magnetron sputtering on SrTiO3 (100) substrates have been studied by cross-sectional transmission electron microscopy (TEM). The experiments showed that nearly perfect 03B1-axis heteroepitaxial growth was achieved, c-axis oriented grains being found only in the beginning of the films. High resolution TEM was used to study the microstructure of the different interfaces and layers, special attention being paid to secondary phases. Small Y2O3 inclusions in the YBa2Cu3O7-03B4 layers and elongated PrBaO3 precipitates in the PrBa2Cu3O7-03B4 layers were identified using high resolution TEM and Fourier transform analysis. Microsc. Microanal. Microstruct. Classification Physics Abstracts 61.16.D-68.55-74.70.V