Test rekonfigurierbarer Scan-Netzwerke [article]

Marcel Schaal, Universität Stuttgart, Universität Stuttgart
2013
Beim Entwurf der Testinfrastruktur gibt es hierbei verschiedene Varianten, die im Folgenden kurz erläutert werden: Full-Scan-Design Bei einem Full-Scan-Design sind alle Register über die Scan-Ketten les-und schreibbar, so dass alle sequentiellen Elemente der Schaltung vollständig kontrollier-und observierbar sind. Partial-Scan-Design Sofern nur eine Teilmenge der Register direkt durch die Scan-Ketten zugreifbar ist, handelt es sich um ein Partial-Scan-Design nach [Tri84]. Dies reduziert die
more » ... tzlich benötigte Logik für die Testinfrastruktur gegenüber einem Full-Scan-Design und kann bei geeignetem Schaltungsentwurf zu ähnlich hoher Testbarkeit führen. Insbesondere bei Registern mit ungünstigem kritischem Pfad kann ein Partial-Scan-Design genutzt werden, um die geforderte Geschwindigkeit einzuhalten.
doi:10.18419/opus-3194 fatcat:hahdm2z6rffkfhue7ibbs3tjzm