Beim Entwurf der Testinfrastruktur gibt es hierbei verschiedene Varianten, die im Folgenden kurz erläutert werden: Full-Scan-Design Bei einem Full-Scan-Design sind alle Register über die Scan-Ketten les-und schreibbar, so dass alle sequentiellen Elemente der Schaltung vollständig kontrollier-und observierbar sind. Partial-Scan-Design Sofern nur eine Teilmenge der Register direkt durch die Scan-Ketten zugreifbar ist, handelt es sich um ein Partial-Scan-Design nach [Tri84]. Dies reduziert die

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... tzlich benötigte Logik für die Testinfrastruktur gegenüber einem Full-Scan-Design und kann bei geeignetem Schaltungsentwurf zu ähnlich hoher Testbarkeit führen. Insbesondere bei Registern mit ungünstigem kritischem Pfad kann ein Partial-Scan-Design genutzt werden, um die geforderte Geschwindigkeit einzuhalten.