Defect Detection System Using Convolutional Neural Network & Support Vector Machine
不良品検出のための畳み込みニューラルネットワークとサポートベクタマシン設計支援ツール

Fusaomi Nagata, Keigo Watanabe
Systems, Control and Information  
doi:10.11509/isciesci.64.8_304 fatcat:cdmdhcrnonaghcrwtyobny6o6u