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Untersuchung der Ladungstrennung in Halbleiter-Nanopartikelschichten mit Methoden der Oberflächenphotospannung [article]

Steffen Fengler
2011

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doi:10.5442/e0007 fatcat:a4ujmgwewjdndmfpzflit6f2m4
lang:de
Citation

Steffen Fengler. "Untersuchung der Ladungstrennung in Halbleiter-Nanopartikelschichten mit Methoden der Oberflächenphotospannung." (2011)