Etude et modélisation de la dégradation des transistors MOS submicroniques soumis à une contrainte électrique

B. Cabon-Till, G. Ghibaudo
1986 Revue de Physique Appliquée  
doi:10.1051/rphysap:01986002105030500 fatcat:fvns7za5u5gx7cdbnuuass3nzq