半導体レーザ斜方照明光学系における照度分布測定装置の開発/エリート主義を用いた遺伝アルゴリズムのラインバランシング問題への適用

香川 亨, 秋山 伸幸, 吉田 昌弘, 谷内 俊明
1997 Journal of the Japan Society for Precision Engineering  
doi:10.2493/jjspe.63.1256 fatcat:2liarvvplnb6fejylmywtkbxzm