Caracterización de nanoestructuras sub-superficiales utilizando espectroscopía de aniquilación de positrones

Carlos Eugenio Macchi
2013 Matéria  
La espectroscopía de aniquilación de positrones (PAS) ha demostrado ser una poderosa herramienta para el estudio de defectos en sólidos ya que posee características únicas debido a su alta sensibilidad a la presencia de defectos tales como vacancias, aglomerados de vacancias o nanohuecos. Asimismo, PAS posibilita la identificación y caracterización de cada uno de estos defectos. Existen diferentes variantes experimentales de PAS tales como la espectrometría temporal positrónica, que permite
more » ... tificar y cuantificar los distintos tipos de defectos, y el ensanchamiento Doppler que brinda información no solo sobre los defectos sino, también, sobre las especies atómicas que decoran los sitios de atrapamiento de los positrones. Estas técnicas, acopladas a un haz de positrones lentos permiten estudiar, además, defectos sub-superficiales en materiales con espesores inferiores al micrómetro, films y coatings. En este trabajo, se presentan dos ejemplos que ponen de manifiesto la potencialidad de PAS para el estudio de defectos sub-superficiales en: i) vidrios de sílice implantados con iones de oro y ii) oro rugosado.
doi:10.1590/s1517-70762013000400003 fatcat:zy4fqiiykjcsfigwioxm7b3nvm