2.5 耐ソフトエラーSRAMレイアウト(第2章:放射線によるソフトエラー,<特集>ディペンダブルVLSIシステム)
2.5 Soft-Error Tolerant SRAM Cell Layout(2. Radiation-Induced Soft Errors,Dependable VLSI System)

Hiroshi KAWAGUCHI, Shusuke YOSHIMOTO, Shunsuke OKUMURA, TAKURO Amashita, Shintaro IZUMI, Masahiko YOSHIMOTO
2013 The Journal of Reliability Association of Japan  
doi:10.11348/reajshinrai.35.8_432 fatcat:f2jva7o5tjd7bpus2hzx2jsjpy