Détermination des facteurs de structure de diffraction électronique par une méthode d'analyse numérique des franges de pendelloesung

A. Lannes
1972 Revue de Physique Appliquée  
2014 Nous développons une méthode d'analyse numérique des profils d'intensité susceptible de préciser les coefficients du développement en série de Fourier du potentiel cristallin. Son application à l'étude des franges d'égale épaisseur, à celle des contours d'extinction comme à celle des défauts plans doit nous apporter des renseignements intéressants sur le degré de validité de la théorie, notamment en ce qui concerne l'absorption, et sur les limites de l'investigation expérimentale.
more » ... rimentale. Abstract. 2014 A method of numerical analysis of intensity profiles has been developped in order to determine the coefficients of the Fourier series of the crystalline potential. Its application to the study of equal thickness fringes, of rocking curves as well as to the study of plane defects must give interesting information about the degree of validity of the dynamical theory, especially as far as absorption is concerned, and about the limits of experimental investigation.
doi:10.1051/rphysap:0197200704026100 fatcat:4q4qxv77nzdmni6vv7q3junydm