Öz Bu çalışmada, CuInSe (CIS) ince filmleri cam/ITO alttabakalar üzerine elektro-kimyasal kaplama yöntemi ile oluşturulmuştur. Cam/ITO/CIS filmlerinin yüzey morfolojilerinin ve optiksel özelliklerinin incelenebilmesi için AFM ve UV-VIS analizleri yapılmıştır. Analiz işlemleri bittikten sonra cam/ITO/CIS yapılarının üzerine termal buharlaştırma yöntemi ile rubrene (C42H28) ince filmleri oda sıcaklığında ve 2,5x10 -6 torr basınç altında kaplanmıştır. Elde edilen cam/ITO/CIS/rubrene

more »

... nin yüzey morfolojilerinin ve optiksel özelliklerinin incelenmesi için AFM ve UV-VIS analizleri tekrar yapılmıştır. AFM analizleri sonucunda cam/ITO/CIS ve cam/ITO/CIS/rubrene yapılarının yüzey pürüzlülük değerleri sırasıyla; 231,6 nm ve 182,82 nm olarak belirlenmiştir. UV-VIS analizlerinde cam/ITO/CIS, ve cam/ITO/CIS/rubrene yapılarının yasak enerji aralıkları sırasıyla; 1,42 eV ve 2,07eV olarak belirlenmiştir. Abstract In this work, CuInSe (CIS) thin films were deposited on glass/ITO by electro-deposition technique. The surface microstructure, surface roughness and the band gap were analyzed using AFM and UV-VIS techniques for all glass/ITO/CIS structures. After these analyzing processes were completed, rubrene (C42H28) thin film was coated on glass/ITO/CIS structures by using thermal evaporation method under 2,5x10 -6 torr at room temperature. Then, the analyzing processes of surface microstructure, surface roughness and the band gap were repeated. As a result of AFM analysis, surface roughness values of glass/ITO/CIS and glass/ITO/CIS/rubrene were found to be 231,6 nm and 182,82 nm, respectively. As a result of UV-VIS analysis, the band gap values of glass/ITO/CIS and glass/ITO/CIS/rubrene structures were determined as 1,42 eV and 2,07eV, respectively.