Appareillages de mesure de la conductivité thermique des semi-conducteurs II. La méthode d'Angström

J. Gatecel, G. Weill
1962 Journal de Physique Appliquée  
Seine-et-Oise) . Résumé. 2014 La méthode d'Angström a été appliquée à la mesure de la diffusivité thermique des semi-conducteurs. C'est une méthode absolue et applicable à haute température, contrairement à celle des fluxmètres, qui a été décrite dans un article précédent. On étudie un régime semi-permanent de température caractérisé par la propagation d'une onde sinusoïdale le long d'une barre, en négligeant la réflexion de cette onde et en tenant compte des pertes de chaleur par rayonnement.
more » ... n discute de la validité des hypothèses faites et on décrit l'appareillage utilisé. On étudie la conductivité thermique des solutions solides 30 Bi2Te3 + 70 Sb2Te3 ± x Te en fonction de x, entre 20 et 300 °C : les résultats confirment les conclusions tirées d'une étude antérieure des propriétés électriques de ces matériaux.
doi:10.1051/jphysap:0196200230609500 fatcat:v3wuwai6o5dy7jqitia3vlsqvu