Electrical Conductivity Measurements with micro-4 probe Method
28aYQ-11 マイクロ4端子法による電気伝導の測定

T. Tanikawa, I. Shiraki, T. Nagao, S. Hasegawa
2001 Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan (Nihon Butsuri Gakkai koen gaiyoshu)  
doi:10.11316/jpsgaiyo.56.1.4.0_803_2 fatcat:j3cgfd5ugzbd5eppzjfdm4rmd4