8pAS-4 走査トンネル分光イメージングによるトポロジカル絶縁体表面バンド分散測定(8pAS 領域9,領域3 合同シンポジウム:表面スピンの基礎物性とスピントロニクス応用,領域3(磁性))
8pAS-4 Band dispersion measurements on topological insulator surfaces using spectroscopic imaging scanning tunneling spectroscopy

Shunsuke Yoshizawa
2014 Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan (Nihon Butsuri Gakkai koen gaiyoshu)  
doi:10.11316/jpsgaiyo.69.2.3.0_291_1 fatcat:23ihyf3u5vgbfkniujxpvkr4vm