Microscopia de varredura por sonda (SPM) aplicada a aços inoxidáveis dúplex

Fabricio Simão dos Santos, Simoni Maria Gheno, Sebastião Elias Kuri
2007 Rem : Revista Escola de Minas  
Nesse trabalho, a microscopia de varredura por sonda (Scanning Probe Microscopy - SPM), nos modos contato (Atomic Force Microscopy - AFM) e de força magnética (Magnetic Force Microscopy - MFM), foi utilizada para analisar a microestrutura de um aço inoxidável dúplex 2205 solubilizado e envelhecido. Foi feita uma análise por AFM da superfície do aço solubilizado após crescimento de filme passivo. Por AFM, obteve-se indicação de crescimento de filme sobre a microestrutura do aço solubilizado,
more » ... o solubilizado, enquanto por MFM a distribuição de fases pôde ser observada sem a necessidade de ataque da superfície.
doi:10.1590/s0370-44672007000100028 fatcat:jw3yfugutzcyxg7thdk6jhjypa