Compositional analysis of surface and interface. Auger electron spectroscopy (AES, SAM)
表面,界面の組成分析 オージェ電子分光法(AES,SAM)

HEIZO TOKUTAKA
1987 Nihon Kessho Gakkaishi  
doi:10.5940/jcrsj.29.81 fatcat:xlp4ekuwhbatrpeb2id4rylf5q