Un cas extrême de contact électrique miniature : l'A.F.M. à pointe conductrice

L. Boyer, P. Chrétien, F. Houze, R. Meyer, O. Schneegans
2003 Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes  
Dans la recherche de la miniaturisation des contacts électriques, la sonde utilisée dans les microscopes à force atomique peut être considérée comme un modèle réduit extrême. Après avoir montré en quoi consiste ce contact, nous donnerons quelques idées d'applications envisageables.
doi:10.1051/bib-j3ea:2003601 fatcat:fyvlobbhevbx3gldf4octzcrry