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Análise de Perdas em Semicondutores SIC e GaN Utilizados em Conversor DAB Multinível Aplicado em Carregador de Veículo Elétrico
2020
Anais do Congresso Brasileiro de Automática 2020
unpublished
Neste trabalho faz-se a comparação, por simulação, entre as perdas por condução e comutação geradas em semicondutores de banda larga (SiC e GaN) aplicados em um conversor DAB (Dual Active Bridge) multinível monofásico projetado para aplicação no estágio CC-CC de protótipo de um carregador de veículo elétrico. As simulações foram realizadas por meio do software PSIM, sendo consideradas apenas as perdas em regime permanente. A topologia do conversor aplicado é caracterizada por um conversor
doi:10.48011/asba.v2i1.1556
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