P1-D-45 パルスレーザを利用したCVDダイヤモンド薄膜の界面密着性評価(計測法・影像法・非破壊検査,ポスターセッション1(概要講演))
P1-D-45 Interfacial Quality of CVD Diamond Film Utilizing Pulsed Laser

Ryuji Ikeda, Syun Tasaka, Hideo Cho, Mikio Takemoto
Proceedings of Symposium on Ultrasonic Electronics  
doi:10.24492/use.24.0_95 fatcat:vamncy6gdjhw3cb5h4rmm5riym