This document determines the displacement of a piezo-electric crystal with nanometric resolutions in function of applied voltage, until find the hysteresis curve of the En este trabajo se determina el desplazamiento de un cristal piezo-eléctrico con resoluciones del orden de los nanómetros en función del voltaje aplicado, hasta encontrar la curva de histéresis del tranductor eléctrico para conocer su comportamiento y determinar la caracterización del cristal Piezo-Eléctrico Jena Ref. 0693. Se

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... scribe el montaje óptico utilizado en la parte experimental y el procedimiento para la calibración del paso de desplazamiento del cristal piezo-eléctrico. El procedimiento de calibración, es una condición necesaria para conocer desplazamientos de gran exactitud. Luego se hace la adquisición de imágenes utilizando un sistema de control digital de desplazamientos y un software para la captura, procesamiento y visualización de las imágenes, logrando obtener las franjas de interferencia. Posteriormente, se hace el análisis de los valores que arroja el sistema, explicando las condiciones y los comportamientos de cada una de las medidas experimentales. Se hace la codificación de la información utilizando Matlab y por medio de la detección de máximos, se logra encontrar la cantidad de desplazamientos que ejecuta el cristal piezo-eléctrico cuando sufre deformaciones al ser aplicado diferentes variaciones de voltaje. Por último, se exponen los resultados de las pruebas efectuadas para mostrar el comportamiento del transductor eléctrico al ser sometido a variaciones de voltaje en forma creciente y decreciente hasta determinar la caracterización del cristal Piezo-Eléctrico Jena Ref. 0693.