TRAPPING SITES, OPTICAL DAMAGE, AND THERMALLY STIMULATED CURRENT IN FERROELECTRIC OXIDE CRYSTALS

R. CLARKE, F. W. AINGER, J. C. BURFOOT
1972 Le Journal de Physique Colloques  
RBsumB. -On discute le (( site vide )) dans les ferroklectriques k octaedres d'oxyghnes, et sa pertinence au dommage de I'index de refraction et pour des pikges des porteurs. Nous comparaissons ce dommage dans les cas de plusieurs matkriaux et en particulier pour deux niobates a seuil haut, KLN et KSN. On propose l'existence d'une correlation entre l'action des pikges et le dommage. (( Proton filling )) peut reduire la susceptibilite au dommage dans le KLN mais pas dans le KSN. Abstract. -cr
more » ... ty sites )) in oxide octahedral ferroelectrics are discussed, and their relevance to refractive index damageing and charge carrier trapping. Damage in several, oxide materials is compared, and two high-threshold niobates, KLN and KSN, are reported. A correlation between charge trapping and optical damage is suggested. (( Proton )) filling to reduce damage susceptibility is successful with KLN but not KSN.
doi:10.1051/jphyscol:1972249 fatcat:zzzqjvs3mzakzgp3rpbe7tccny