CARMEN : une plateforme de caractérisation métrologique dédiée aux nanomatériaux

N. FELTIN, A. DELVALLÉE, S. DUCOURTIEUX, P. GOURNAY, B. POYET, M. TRABELSI, Y. BOUKELLAL, F. PIQUEMAL
2013 Revue française de métrologie  
doi:10.1051/rfm/2012009 fatcat:wkgsbldc4zhsdbghrjxgbnaddi