YOSHIKAWA, M., SUZUKI, D., HORI, Y., FUJINO, T., 2013. 8.4 LSI設計時の耐タンパ性検証手法(第8章:セキュリティ,<特集>ディペンダブルVLSIシステム) 35.. https://doi.org/10.11348/reajshinrai.35.8_494